SRM 1230 高溫合金A286標(biāo)準(zhǔn)品分析

NIST SRM 1230  高溫合金A286標(biāo)準(zhǔn)品為圓盤形式，主要用于光發(fā)射和 X 射線光譜法。 SRM 1230 的一個(gè)單元由一個(gè)大約 32 mm × 19 mm 的圓盤組成。

使用說明

測試面是與標(biāo)有 SRM 編號和菱形 NBS 標(biāo)志的表面相對的一側(cè)。

SRM 1230  高溫合金A286標(biāo)準(zhǔn)品該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過認(rèn)證。每個(gè)封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測試表面來準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過程可能會污染表面。材料應(yīng)存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用由相同材料制備的實(shí)心盤和芯片測試該材料。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的總體平均成分。

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